简述测量上限为100mm的外径千分尺两测量面平行度检定方法？
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简述测量上限为100mm的外径千分尺两测量面平行度检定方法？
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第1题：
用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。
正确答案:成组 -
第2题：
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
正确答案:错误 -
第3题：
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
正确答案:测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面平行度的检定，所用的平行平晶尺寸为（40~41）mm中依次间隔（0.12~0.13）mm四个尺寸，如40.00、40.12、40.25和40.37mm。 -
第4题：
零级外径千分尺示值误差用（）量块检定；1级外径千分尺，板厚、壁厚千分尺用（）量块检定，各受检点应（）于测量范围的（）上。
正确答案:4等或1级；5等或2级；均匀分布；五点 -
第5题：
简述内径千分尺校对卡规工作尺寸和两工作面平行度的检定方法？
正确答案: 检定可在万能测长仪，卧式光学计或测长机上安装内测附件，借助4等量块附件，对校对卡规工作面中间和四个角共5个点以比较法检定，或在象点比长仪上进行绝对测量。两个工作面上中点间距离为校对卡规的工作尺寸；所测得的5个尺寸中，最大与最小尺寸之差为两工作面的平行度。 -
第6题：
用量块检定千分尺测量面的平行度，应注意哪些问题？
正确答案: 用量块检定千分尺测量面的平行度应注意如下问题：
1.手拿量块时间不能太长，检定应迅速，否则手热将影响量块尺寸。
2.由于量块本身也有平行度偏差，为了提高检定精度，检定千分尺四个方位时都用量块一个位置。 -
第7题：
判断题测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度，可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第8题：
问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？正确答案： 检定平面度时，使用平面平晶接触测量面后，调出干涉带，按干涉带的形状计算其平面度。
检定平行度时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平晶接触，并调整平晶使其接触点在同一侧，干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。解析： 暂无解析 -
第9题：
判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第10题：
问答题测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？正确答案： 测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面平行度的检定，所用的平行平晶尺寸为（40~41）mm中依次间隔（0.12~0.13）mm四个尺寸，如40.00、40.12、40.25和40.37mm。解析： 暂无解析 -
第11题：
问答题简述内径千分尺校对卡规工作尺寸和两工作面平行度的检定方法？正确答案： 检定可在万能测长仪，卧式光学计或测长机上安装内测附件，借助4等量块附件，对校对卡规工作面中间和四个角共5个点以比较法检定，或在象点比长仪上进行绝对测量。两个工作面上中点间距离为校对卡规的工作尺寸；所测得的5个尺寸中，最大与最小尺寸之差为两工作面的平行度。解析： 暂无解析 -
第12题：
问答题简述测量上限为100mm的外径千分尺两测量面平行度检定方法？正确答案： 测量上限为100mm的外径千分尺两测量面平行度检定时，采用一组4块平行平晶或量（尺寸差应为1／4螺距左右）依次检定。若4个位置的平行度均合格，则认为两测量面在任何位置上的平行度合格。解析： 暂无解析 -
第13题：
测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度，可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。
正确答案:正确 -
第14题：
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
正确答案: 检定平面度时，使用平面平晶接触测量面后，调出干涉带，按干涉带的形状计算其平面度。
检定平行度时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平晶接触，并调整平晶使其接触点在同一侧，干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。 -
第15题：
测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
正确答案: 用平行平晶检定千分尺两工作面的平行度，是在白光下以技术光波干涉法进行的。由于在白光下呈现的彩色干涉条纹约为7条，即2μｍ，因此平行平晶与千分尺的工作面楔形量不大于2μｍ，检定时，平行平晶与千分尺两工作面的楔形量不一定是对称分布的，而对于测量上限大于100mm的千分尺，其工作面的平行度在4μｍ以上，所以不能用于平行平晶来检定。 -
第16题：
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
正确答案:用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度是根据平行平晶与两测量面的接触点在同一侧时，所产生的干涉条纹数确定。千分尺两测量面的平行度，是以其中一块平行平晶检定时产生干涉条纹数最多的确定。 -
第17题：
千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。
正确答案:正确 -
第18题：
简述外径千分尺的测量方法。
正确答案: 1）将被测物擦干净，千分尺使用时轻拿轻放；
2）松开千分尺锁紧装置，校准零位，转动旋钮，使测砧与测微螺杆之间的距离略大于被测物体；
3）一只手拿千分尺的尺架，将待测物置于测砧与测微螺杆的端面之间，另一只手转动旋钮，当螺杆要接近物体时，改旋测力装置直至听到喀喀声后再轻轻转动0.5~1圈；
4）旋紧锁紧装置（防止移动千分尺时螺杆转动），即可读数。 -
第19题：
填空题用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。正确答案： 成组解析： 暂无解析 -
第20题：
问答题测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？正确答案： 用平行平晶检定千分尺两工作面的平行度，是在白光下以技术光波干涉法进行的。由于在白光下呈现的彩色干涉条纹约为7条，即2μｍ，因此平行平晶与千分尺的工作面楔形量不大于2μｍ，检定时，平行平晶与千分尺两工作面的楔形量不一定是对称分布的，而对于测量上限大于100mm的千分尺，其工作面的平行度在4μｍ以上，所以不能用于平行平晶来检定。解析： 暂无解析 -
第21题：
判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第22题：
问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？正确答案： 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度是根据平行平晶与两测量面的接触点在同一侧时，所产生的干涉条纹数确定。千分尺两测量面的平行度，是以其中一块平行平晶检定时产生干涉条纹数最多的确定。解析： 暂无解析 -
第23题：
填空题零级外径千分尺示值误差用（）量块检定；1级外径千分尺，板厚、壁厚千分尺用（）量块检定，各受检点应（）于测量范围的（）上。正确答案： 4等或1级,5等或2级,均匀分布,五点解析： 暂无解析