用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

题目

用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。

  • A、球面干涉
  • B、等倾干涉
  • C、等厚干涉
相似考题

1.千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。

2.长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法分段检定C、用自准直仪以节距法检定

3.某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）A、0.01mmB、0.02umC、0.03um

4.用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉

更多“用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环”相关问题

  • 第1题：

    测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。


    正确答案:越大

  • 第2题：

    用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）

    • A、中凹
    • B、中凸
    • C、平面
    • D、波形

    正确答案:A

  • 第3题：

    检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。


    正确答案:正确

  • 第4题：

    新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以（）方法检定。

    • A、技术光波干涉法
    • B、比较法
    • C、光隙法

    正确答案:A

  • 第5题：

    若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）。

    • A、用刀口尺以光隙法检定
    • B、用平晶的技术光波干涉法检定
    • C、用刀口尺以量块比较法检定

    正确答案:C

  • 第6题：

    用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。

    • A、球面干涉
    • B、等倾干涉
    • C、等厚干涉

    正确答案:C

  • 第7题：

    用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？


    正确答案: 产生光波干涉的条件是：
    ⑴频率相同的两光波在相遇点有相同的振动方向和固定的相位差；
    ⑵两光波在相遇点所产生的振动的振幅（强度）相差不悬殊；
    ⑶两光波在相遇点的光程差不能太大，若其光程差大于所用实际光波的相干长度则无干涉现象。

  • 第8题：

    单选题
    用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。
    A

    干涉条纹尽量少

    B

    2条或4条

    C

    3条或5条


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）
    A

    0.01mm

    B

    0.02um

    C

    0.03um


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（）。
    A

    球面干涉

    B

    等厚干涉

    C

    等倾干涉


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。
    A

    用刀口尺以光隙法检定

    B

    用平晶以技术光波干涉法分段检定

    C

    用自准直仪以节距法检定


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    填空题
    技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。

    正确答案： 等厚干涉
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定

    • A、光波法
    • B、光干涉法
    • C、光条纹法
    • D、干涉条纹法

    正确答案:B

  • 第14题：

    技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。


    正确答案:等厚干涉

  • 第15题：

    在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。

    • A、0.001mm
    • B、0.002mm
    • C、0.003mm

    正确答案:B

  • 第16题：

    若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）

    • A、用刀口尺以光隙法检定
    • B、用平晶以技术光波干涉法检定
    • C、用刀口尺以量块比较法检定

    正确答案:C

  • 第17题：

    以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）

    • A、0.03um
    • B、0.05um
    • C、0.10um

    正确答案:C

  • 第18题：

    检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？


    正确答案:主要原因是平晶与测量面之间夹角太大，或操作时不注意使测量面上带有脏物所致。

  • 第19题：

    用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。

    • A、干涉条纹尽量少
    • B、2条或4条
    • C、3条或5条

    正确答案:C

  • 第20题：

    单选题
    用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
    A

    球面干涉

    B

    等倾干涉

    C

    等厚干涉


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    判断题
    检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
    A

    球面干涉

    B

    等倾干涉

    C

    等厚干涉


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定
    A

    光波法

    B

    光干涉法

    C

    光条纹法

    D

    干涉条纹法


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

相关内容