用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔的干涉条纹，则其平面度为（）。A、0.9μmB、0C、1.8μm

题目

用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔的干涉条纹，则其平面度为（）。

  • A、0.9μm
  • B、0
  • C、1.8μm
相似考题

1.千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。

2.用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉

3.用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A、0.9μmB、0C、1.8μm

4.用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。A、0.9μmB、0C、1.8μm

更多“用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔的干涉条”相关问题

  • 第1题：

    用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。

    • A、球面干涉
    • B、等倾干涉
    • C、等厚干涉

    正确答案:C

  • 第2题：

    用平面平晶检查平面度时，如出现三条直的且相互平行而等间隔的干涉条纹时，其平面度是（）。

    • A、0.9μm
    • B、0
    • C、0.3μm

    正确答案:A

  • 第3题：

    测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。


    正确答案:越大

  • 第4题：

    用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好

    • A、平面度
    • B、平行度
    • C、光洁度
    • D、准确度

    正确答案:A

  • 第5题：

    在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。

    • A、0.001mm
    • B、0.002mm
    • C、0.003mm

    正确答案:B

  • 第6题：

    在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。

    • A、变凹
    • B、变凸
    • C、不变

    正确答案:A

  • 第7题：

    用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？


    正确答案: 产生光波干涉的条件是：
    ⑴频率相同的两光波在相遇点有相同的振动方向和固定的相位差；
    ⑵两光波在相遇点所产生的振动的振幅（强度）相差不悬殊；
    ⑶两光波在相遇点的光程差不能太大，若其光程差大于所用实际光波的相干长度则无干涉现象。

  • 第8题：

    单选题
    用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。
    A

    干涉条纹尽量少

    B

    2条或4条

    C

    3条或5条


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    用平面平晶检查平面度时，如出现三条直的且相互平行而等间隔的干涉条纹时，其平面度是（）。
    A

    0.9μm

    B

    0

    C

    0.3μm


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
    A

    球面干涉

    B

    等倾干涉

    C

    等厚干涉


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔的干涉条纹，则其平面度为（）。
    A

    0.9μm

    B

    0

    C

    1.8μm


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    填空题
    用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。

    正确答案： 相等,等厚干涉
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。


    正确答案:相等；等厚干涉

  • 第14题：

    用平晶测量平面度误差时应如何评定？


    正确答案: 应用光学平晶测量小平面，测量时将平晶贴于被测表面上，若被测表面内凹或外凸，就会出现环形干涉带，根据环形干涉带数与光波的半波长的乘积来表示平面度误差。如果干涉条纹不封闭，可使光学平晶与被测表面间略微倾斜一个角度，使两者之间形成一空气楔。这种按干涉带的弯曲度与相邻两干涉带之间的比值，再乘以半波长即得误差值。不过，按此法评定的误差实际上是以直线度误差代替了平面度误差。
    过去用平晶只能测小平面。近年来有了平晶干涉仪，应用这种仪器也可以利用平晶干涉法来测量较大的平面。

  • 第15题：

    外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定

    • A、光波法
    • B、光干涉法
    • C、光条纹法
    • D、干涉条纹法

    正确答案:B

  • 第16题：

    检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。


    正确答案:正确

  • 第17题：

    用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。

    • A、球面干涉
    • B、等倾干涉
    • C、等厚干涉

    正确答案:C

  • 第18题：

    检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？


    正确答案:主要原因是平晶与测量面之间夹角太大，或操作时不注意使测量面上带有脏物所致。

  • 第19题：

    用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。

    • A、干涉条纹尽量少
    • B、2条或4条
    • C、3条或5条

    正确答案:C

  • 第20题：

    单选题
    用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
    A

    球面干涉

    B

    等倾干涉

    C

    等厚干涉


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（）。
    A

    球面干涉

    B

    等厚干涉

    C

    等倾干涉


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。
    A

    0.9μm

    B

    0

    C

    1.8μm


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    问答题
    检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？

    正确答案： 主要原因是平晶与测量面之间夹角太大，或操作时不注意使测量面上带有脏物所致。
    解析： 暂无解析

  • 第24题：

    单选题
    用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好
    A

    平面度

    B

    平行度

    C

    光洁度

    D

    准确度


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

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