参考答案和解析
正确答案:GTR将永久损坏无法工作
更多“当GTR发生的二次击穿,()”相关问题
  • 第1题:

    当二次电压正常,二次电流显著降低,可能是因为()造成的。

    A电晕极断线;

    B电晕线肥大;

    C电缆击穿;

    D气流分布板孔眼被堵。


    B

  • 第2题:

    当GTR发生的一次击穿,()


    正确答案:只要限制IC在一定范围内,GTR就会恢复,并能继续正常工作

  • 第3题:

    电力场效应管MOSFET()现象。

    • A、有二次击穿
    • B、无二次击穿
    • C、防止二次击穿
    • D、无静电击穿

    正确答案:B

  • 第4题:

    IGBT的主体部分与GTR类似,控制部分与场效应管类似,下面属于IGBT具有的优点的有()

    • A、电磁噪音很小
    • B、电流波形大为改善,电机的转矩增大
    • C、IGBT管二次击穿现象小
    • D、最大管子容量比GTO管大的多

    正确答案:A,B,C

  • 第5题:

    关于二次击穿,以下说法正确的是()。

    • A、大功率晶体管GTR不会发生二次击穿
    • B、功率MOSFET不会发生二次击穿
    • C、二次击穿可能使器件永久性损坏
    • D、二次击穿的过程很短暂

    正确答案:B,C,D

  • 第6题:

    当半导体二极管的反向击穿电压小于6V时,主要发生何种击穿()

    • A、雪崩击穿
    • B、齐纳击穿
    • C、热击穿
    • D、碰撞击穿

    正确答案:A

  • 第7题:

    电力场效应晶体管(电力MOSFET)()现象。

    • A、有二次击穿
    • B、无二次击穿
    • C、防止二次击穿
    • D、无静电击穿

    正确答案:B

  • 第8题:

    试解释为什么GTR有二次击穿现象,而Power MOSFET没有。


    正确答案:GTR有二次击穿现象,而PowerMOSFET没有二次击穿现象的根本原因是这两种器件的工作载流子性质不同。GTR这类双极性器件主要依靠少数载流子的注入传导电流,少数载流子的注入密度随结温升高而增大。电流的增大使结温进一步升高,从而使得电流与结温之间具有正反馈的关系。而功率MOSFET主要依靠多数载流子导电,多数载流子的迁移率随温度的上升而下降,其宏观表现就是漂移区的电阻升高,电阻升高会使电流减小,电流的减小使得结温下降,从而使得电流与结温之间呈负反馈关系。该特性不仅使得功率MOSFET没有热反馈引起的二次击穿现象,其安全工作区大大增大。

  • 第9题:

    单选题
    当表盘显示二次电压低,二次电流正常,则可能发生了()。
    A

    电晕线断线,其残留段摆动

    B

    电晕线肥大

    C

    电缆击穿

    D

    气流分布板堵


    正确答案: C
    解析: 暂无解析

  • 第10题:

    填空题
    当GTR发生的二次击穿,()

    正确答案: GTR将永久损坏无法工作
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    填空题
    当GTR发生的一次击穿,()

    正确答案: 只要限制IC在一定范围内,GTR就会恢复,并能继续正常工作
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    单选题
    在GTR作为开关的电路中,若在转换的过程中出现从高电压小电流到低电压大电流的现象,则说明晶体管()
    A

    失控

    B

    二次击穿

    C

    不能控制关断

    D

    不能控制开通


    正确答案: A
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    当表盘显示二次电压低,二次电流正常,则可能发生了()。

    • A、电晕线断线,其残留段摆动
    • B、电晕线肥大
    • C、电缆击穿
    • D、气流分布板堵

    正确答案:B

  • 第14题:

    当表盘显示二次电流不稳定,毫安表指针急剧摆动,则可能发生了()。

    • A、电晕线断线,其残留段摆动
    • B、电晕线肥大
    • C、电缆击穿
    • D、气流分布板堵

    正确答案:A

  • 第15题:

    GTR的主要缺点之一是()

    • A、开关时间长
    • B、高频特性差
    • C、通态压降大
    • D、有二次击穿现象

    正确答案:D

  • 第16题:

    功率晶体管GTR从高电压小电流向低电压大电流跃变的现象称为()。

    • A、一次击穿
    • B、二次击穿
    • C、临界饱和
    • D、反向截止

    正确答案:B

  • 第17题:

    在GTR作为开关的电路中,若在转换的过程中出现从高电压小电流到低电压大电流的现象,则说明晶体管()

    • A、失控
    • B、二次击穿
    • C、不能控制关断
    • D、不能控制开通

    正确答案:A

  • 第18题:

    GTR的优点是控制方便、开关时间短,低频特性好,缺点是存在局部过热现象,可能导致二次击穿。


    正确答案:错误

  • 第19题:

    描述GTR的二次击穿特性。


    正确答案:GTR的集电极电压升高至前面所述的击穿电压时,集电极电流迅速增大,这种首先出现的击穿是雪崩击穿,被称为一次击穿。出现一次击穿后,只要Ic不超过与最大允许耗散功率相对应的限度,GTR一般不会损坏,工作特性也不会有什么变化。但是实际应用中常常发现一次击穿发生时如果不有效地限制电流,Ic增大到某个临界点时会突然急剧上升,同时伴随着电压的陡然下降,这种现象称为二次击穿。二次击穿常常立即导致器件的永久损坏,或者工作特性明显衰变,因而对GTR危害极大。

  • 第20题:

    单选题
    电力场效应晶体管(电力MOSFET)()现象。
    A

    有二次击穿

    B

    无二次击穿

    C

    防止二次击穿

    D

    无静电击穿


    正确答案: C
    解析: 暂无解析

  • 第21题:

    问答题
    描述GTR的二次击穿特性。

    正确答案: GTR的集电极电压升高至前面所述的击穿电压时,集电极电流迅速增大,这种首先出现的击穿是雪崩击穿,被称为一次击穿。出现一次击穿后,只要Ic不超过与最大允许耗散功率相对应的限度,GTR一般不会损坏,工作特性也不会有什么变化。但是实际应用中常常发现一次击穿发生时如果不有效地限制电流,Ic增大到某个临界点时会突然急剧上升,同时伴随着电压的陡然下降,这种现象称为二次击穿。二次击穿常常立即导致器件的永久损坏,或者工作特性明显衰变,因而对GTR危害极大。
    解析: 暂无解析

  • 第22题:

    单选题
    功率晶体管(GTR)从高电压小电流向低电压大电流跃变的现象称为()。
    A

    一次击穿

    B

    二次击穿

    C

    临界饱和

    D

    反向截至


    正确答案: B
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    问答题
    试解释为什么GTR有二次击穿现象,而Power MOSFET没有。

    正确答案: GTR有二次击穿现象,而PowerMOSFET没有二次击穿现象的根本原因是这两种器件的工作载流子性质不同。GTR这类双极性器件主要依靠少数载流子的注入传导电流,少数载流子的注入密度随结温升高而增大。电流的增大使结温进一步升高,从而使得电流与结温之间具有正反馈的关系。而功率MOSFET主要依靠多数载流子导电,多数载流子的迁移率随温度的上升而下降,其宏观表现就是漂移区的电阻升高,电阻升高会使电流减小,电流的减小使得结温下降,从而使得电流与结温之间呈负反馈关系。该特性不仅使得功率MOSFET没有热反馈引起的二次击穿现象,其安全工作区大大增大。
    解析: 暂无解析