平面平晶有（）和（）两种。

第1题：

第2题：

刀口尺和量块在平面平晶上可组成标准光隙。

正确答案:正确

第3题：

用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。

正确答案:相等；等厚干涉

第4题：

测量高精度的小平面的平面度误差宜用（）。

• A、准直望远镜
• B、罐式水平量器
• C、平晶

正确答案:C

第5题：

平面平晶法多用于测量（）水平面的工件。

正确答案:高精度

第6题：

平面平晶的用途有哪些？

正确答案:平面平晶是用光波干涉法测量量块、量具、计量仪器的测量面的平面度。

第7题：

如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？

正确答案: 检定平面度时，使用平面平晶接触测量面后，调出干涉带，按干涉带的形状计算其平面度。
检定平行度时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平晶接触，并调整平晶使其接触点在同一侧，干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。

正确答案:干涉条纹；划坏平晶

第14题：

用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。

• A、0.9μm
• B、0
• C、1.8μm

正确答案:B

第15题：

用平晶测量平面度误差时应如何评定？

正确答案: 应用光学平晶测量小平面，测量时将平晶贴于被测表面上，若被测表面内凹或外凸，就会出现环形干涉带，根据环形干涉带数与光波的半波长的乘积来表示平面度误差。如果干涉条纹不封闭，可使光学平晶与被测表面间略微倾斜一个角度，使两者之间形成一空气楔。这种按干涉带的弯曲度与相邻两干涉带之间的比值，再乘以半波长即得误差值。不过，按此法评定的误差实际上是以直线度误差代替了平面度误差。
过去用平晶只能测小平面。近年来有了平晶干涉仪，应用这种仪器也可以利用平晶干涉法来测量较大的平面。

第16题：

光学平晶等厚干涉法适用于测量精度较高的（）。

• A、大平面
• B、小平面
• C、圆柱面
• D、圆跳动

正确答案:B

第17题：

X射线荧光光谱仪分光方法有（）和（），分别用平晶和弯晶分光。

正确答案:平行法；聚焦法

第18题：

平面平晶分为1级、2级、3级。

正确答案:错误

第19题：

在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。

• A、变凹
• B、变凸
• C、不变

正确答案:A

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：