在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为深度定位视差法。

题目

在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为深度定位视差法。

相似考题

1.C型显示所能提供的超声波探伤记录,其主要参数是()A、缺陷深度和尺寸B、缺陷深度、取向和尺寸C、缺陷的位置和深度D、缺陷的位置和尺寸(平面视图)

2.在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为立体射线照相法。

3.在射线照相中，确定缺陷在工件中深度位置的方法是（）A、在互相垂直的两个方向对工件作二次照相B、对工件作平移二次照相C、对工件作旋转二次照相D、以上都是

4.射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。

更多“在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为深度定位视差法。”相关问题

  • 第1题：

    利用双探头穿透法探查铀棒时，不能确定缺陷在表面下的深度位置。


    正确答案:正确

  • 第2题：

    用不同角度的探头对同一缺陷探测时，所得缺陷的深度是不同的。


    正确答案:错误

  • 第3题：

    从可检出最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）

    • A、底片成象颗粒度
    • B、底片上缺陷图像不清晰度
    • C、底片上缺陷图像对比度
    • D、以上都是

    正确答案:D

  • 第4题：

    射线探伤可以利用照相法，将焊缝内部焊接缺陷的（）清晰地呈现在底片上，作为评定焊缝质量依据。

    • A、尺寸大小
    • B、相对位置
    • C、数量
    • D、形状

    正确答案:A,B,C,D

  • 第5题：

    超声波检测中，缺陷定量包括确定缺陷的（）

    • A、大小
    • B、位置
    • C、深度
    • D、数量

    正确答案:A,D

  • 第6题：

    工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。

    • A、垂直
    • B、平行
    • C、倾斜45°
    • D、都可以

    正确答案:B

  • 第7题：

    缺陷定位方法为（）

    • A、声程定位法
    • B、水平定位法
    • C、深度定位法
    • D、以上都是

    正确答案:D

  • 第8题：

    夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状


    正确答案:错误

  • 第9题：

    以下哪几种无损探伤方法适用于船舶工程？（）

    • A、RT（X-射线照相检测）内部，体积状缺陷较直观，能确定缺陷的性质以及其平面投影的位置和相对大小。
    • B、UT（超声波检测）内部，面积状缺陷不直观，较难确定缺陷的性质，能测定缺陷的的位置和大小
    • C、MT（磁粉检测）表面、近表面缺陷，铁磁性材料较直观，能确定缺陷的位置和形状大小，不能确定缺陷的深度
    • D、PT（着色渗透检测）表面开口性缺陷，非多孔性材料较直观，能确定缺陷的位置和形状大小，不能确定缺陷的深度

    正确答案:A,B,C,D

  • 第10题：

    单选题
    从可检出最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）
    A

    底片成象颗粒度

    B

    底片上缺陷图像不清晰度

    C

    底片上缺陷图像对比度

    D

    以上都是


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    填空题
    射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。

    正确答案： 平行
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    在射线照相中，确定缺陷在工件中深度位置的方法是（）
    A

    在互相垂直的两个方向对工件作二次照相

    B

    对工件作平移二次照相

    C

    对工件作旋转二次照相

    D

    以上都是


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    渗透探伤是一种非破坏性检验方法，这种方法可用于（）

    • A、探测和评定试件中各种缺陷
    • B、探测和确定试样中的缺陷长度、深度和宽度
    • C、确定试样的抗拉强度
    • D、探测工件表面的开口缺陷

    正确答案:D

  • 第14题：

    在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为空间投影法。


    正确答案:错误

  • 第15题：

    荧光探伤时，由于荧光液和显像粉的作用，缺陷处出现强烈的荧光，根据发光程度的不同，就可以确定缺陷的（）。

    • A、位置和性质
    • B、深度和大小
    • C、位置和大小
    • D、结构和类型

    正确答案:C

  • 第16题：

    利用照相法进行射线探伤，底片上缺陷的形状和大小与真实缺陷是完全一样的。


    正确答案:错误

  • 第17题：

    在射线底片上，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是（）

    • A、射源尺寸
    • B、射源到缺陷的距离
    • C、缺陷到胶片的距离
    • D、缺陷相对于射源和胶片的位置和方向

    正确答案:D

  • 第18题：

    渗透检测是一种非破坏试验方法，这种方法可用于（）。

    • A、探测和评定试件中的各种缺陷
    • B、探测和确定试样中缺陷的长度，深度和宽度
    • C、确定试样的抗拉强度
    • D、探测工件表面的开口缺陷

    正确答案:D

  • 第19题：

    渗透检测是一种非破坏性检验方法，这种方法可用于（）

    • A、检测和评定试件中的各种缺陷
    • B、检测和评定试样表面开口缺陷的长度和深度
    • C、确定试样表面开口缺陷的长度和宽度
    • D、检测试件表面的开口缺陷

    正确答案:D

  • 第20题：

    曝光过程中，试样或胶片偶然移动或使用焦距变小（）。

    • A、产生射线照相底片对比度低
    • B、不可能检出大缺陷
    • C、产生射线照相底片不清晰
    • D、产生发灰的射线照片

    正确答案:C

  • 第21题：

    焊缝射线照相底片上常见缺陷（）、（）、（）和（）。


    正确答案:裂纹；气孔；夹渣；未熔合

  • 第22题：

    单选题
    渗透检测是一种非破坏试验方法，这种方法可用于（）。
    A

    探测和评定试件中的各种缺陷

    B

    探测和确定试样中缺陷的长度，深度和宽度

    C

    确定试样的抗拉强度

    D

    探测工件表面的开口缺陷


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    渗透探伤是一种非破坏性检验方法，这种方法可用于（）
    A

    探测和评定试件中各种缺陷

    B

    探测和确定试样中的缺陷长度、深度和宽度

    C

    确定试样的抗拉强度

    D

    探测工件表面的开口缺陷


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

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