（）不是减少系统误差的方法。A、进行对照试验B、进行空白试验C、提纯试剂D、增加平行试验
题目
（）不是减少系统误差的方法。
- A、进行对照试验
- B、进行空白试验
- C、提纯试剂
- D、增加平行试验
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第1题：
减少分析测定中偶然误差的方法为
A.进行对照试验
B.进行空白试验
C.进行仪器校准
D.进行分析结果校正
E.增加平行试验次数答案：E解析： -
第2题：
在下列方法中可以减少分析中偶然误差的是（）.
- A、增加平行试验的次数
- B、进行对照实验
- C、进行空白试验
正确答案:A -
第3题：
可用下述那种方法减少滴定过程中的偶然误差（）。
- A、进行对照试验
- B、进行空白试验
- C、进行仪器校准
- D、增加平行测定次数
正确答案:D -
第4题：
减少系统误差的方法有（）
- A、进行对照试验
- B、进行空白试验
- C、提纯试剂
- D、校准仪器、量具
- E、增加平行试验
正确答案:A,B,C,D -
第5题：
消除系统误差的方法有（）。
- A、增加平行测定的次数
- B、做空白试验
- C、校正仪器
- D、做对照试验
正确答案:B,C,D -
第6题：
下列方法中（）可以减少分析中的偶然误差。
- A、进行空白试验
- B、进行对照试验
- C、仪器进行校正
- D、增加平行测定次数
正确答案:D -
第7题：
在下列方法中可以减少分析中系统误差的是（）
- A、增加平行试验的次数
- B、进行对照实验
- C、进行空白试验
- D、进行仪器校正
正确答案:B,C,D -
第8题：
消除系统误差的方法有（）。
- A、空白试验
- B、对仪器进行校准
- C、增加平行试验次数
- D、对照试验
正确答案:A,B,D -
第9题：
单选题减少分析方法中偶然误差的方法可采用（）A进行空白试验
B加校正值的方法
C进行对照试验
D增加平行测定次数
E进行回收试验
正确答案： E解析： 暂无解析 -
第10题：
单选题由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过（）来消除。A对照分析
B空白试验
C增加平行试验
D校正仪器
正确答案： C解析： 暂无解析 -
第11题：
多选题在下列方法中可以减少分析中系统误差的是（）A增加平行试验的次数
B进行对照实验
C进行空白试验
D进行仪器校正
正确答案： A,C解析： 暂无解析 -
第12题：
多选题减少系统误差的方法有（）A进行对照试验
B进行空白试验
C提纯试剂
D校准仪器、量具
E增加平行试验
正确答案： C,B解析： 暂无解析 -
第13题：
可用下列哪种方法减少测定中的偶然误差（）。
A进行对照试验
B空白试验
C增加平行试验次数
D进行仪器校正
C
略 -
第14题：
减少分析测定中偶然误差的方法为（）。
- A、进行对照试验
- B、进行空白试验
- C、进行仪器校准
- D、增加平行试验次数
正确答案:D -
第15题：
减少分析测定中偶然误差的方法为（）。
- A、进行对照试验
- B、进行空白试验
- C、进行仪器校准
- D、进行分析结果校正
- E、增加平行试验次数
正确答案:E -
第16题：
在下列方法中可以减少分析中偶然误差的是（）。
- A、增加平行试验的次数
- B、进行对照实验
- C、进行空白试验
- D、进行仪器的校正
正确答案:A -
第17题：
可用于减少测定过程中的偶然误差的方法是（）
- A、进行对照试验
- B、进行空白试验
- C、进行仪器校准
- D、增加平行试验的次数
正确答案:D -
第18题：
用于减少测定过程中的偶然误差的方法是（）。
- A、进行对照试验
- B、进行空白试验
- C、进行仪器校正
- D、增加平行试验次数
- E、进行分析结果校正
正确答案:D -
第19题：
由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过（）来消除。
- A、对照分析
- B、空白试验
- C、增加平行试验
- D、校正仪器
正确答案:B -
第20题：
多选题消除系统误差的方法有（）。A空白试验
B对仪器进行校准
C增加平行试验次数
D对照试验
正确答案： D,A解析： 暂无解析 -
第21题：
单选题可用哪种方法减少分析测试中的偶然误差（）A进行对照试验
B进行空白试验
C增加平行试验的次数
D进行仪器的校准
正确答案： C解析： 暂无解析 -
第22题：
单选题减少分析测定中偶然误差的方法为（）。A进行对照试验
B进行空白试验
C进行仪器校准
D进行分析结果校正
E增加平行试验次数
正确答案： D解析： 暂无解析 -
第23题：
单选题（）不是减少系统误差的方法。A进行对照试验
B进行空白试验
C提纯试剂
D增加平行试验
正确答案： C解析： 暂无解析