在绝缘试验时，通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。A对B错
题目
A对
B错
相似考题
更多“在绝缘试验时，通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。”相关问题
-
第1题：
M型介质试验器测量出被试品支路的视在功率S和有功损耗功率P，则其介质损耗角正切值tanδ=P/S。
A对
B错
错
略 -
第2题：
聚乙烯绝缘电缆的优点是介质损耗角正切值小。
正确答案:错误 -
第3题：
测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位，在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。
正确答案:正确 -
第4题：
介质损耗角正切值tanδ对局部集中缺陷不太灵敏时，一般将设备进行分解试验。
正确答案:正确 -
第5题：
通过测量介质损耗角正切值可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。
正确答案:正确 -
第6题：
测量20kV及以上非纯瓷套管的主绝缘介质损耗角正切值tanδ和电容值，电容型套管的实测电容量值与产品铭牌数值或出厂试验值相比，其差值应在（）范围内。
正确答案:±5% -
第7题：
通过测量（）可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。
- A、电感
- B、电容
- C、介质损耗角正切值
正确答案:C -
第8题：
常用的非破坏性试验有（）。
- A、绝缘电阻和吸收比测量
- B、直流泄漏电流测量
- C、绝缘介质损耗角正切值测量
- D、工频耐压试验
正确答案:A,B,C -
第9题：
单选题当绝缘介质一定时，外加电压一定时，介质损耗电流Ir的大小与介质损耗正切值tanδ成（）A反比
B正比
CU形曲线比例关系
正确答案： A解析： 暂无解析 -
第10题：
判断题在绝缘试验时，通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。A对
B错
正确答案： 错解析： 通过测量介质损耗角的正切值可以反映出一系列的绝缘缺陷，如绝缘受潮、劣质变化或瓦隙放电等。测量电介质的tanδ值，便于定量分析绝缘材料的损耗特性，有利于绝缘材料的分析研究和结构设计。 -
第11题：
判断题通过测量电阻性电流IR与电容性电流IQ之和可以判断绝缘介质在交流电压作用下的损耗情况称为介质损耗角正切值。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析 -
第12题：
判断题当绝缘介质一定，外加电压一定时，介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成正比。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第13题：
通过测量介质损耗角正切值可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。
A对
B错
错
略 -
第14题：
在绝缘试验时，通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。
正确答案:正确 -
第15题：
可以用介质损耗正切值来表示介质损耗的大小，通过测量介质损耗正切值，可以发现（）等绝缘缺陷，是判定绝缘好坏的一项重要数据.
- A、绝缘受潮缺陷
- B、贯通性绝缘缺陷
- C、绝缘老化缺陷
- D、绝缘气隙放电缺陷
正确答案:A,C,D -
第16题：
当绝缘介质一定，外加电压一定时，介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成正比。
正确答案:正确 -
第17题：
M型介质试验器测量出被试品支路的视在功率S和有功损耗功率P，则其介质损耗角正切值tanδ=P/S。
正确答案:正确 -
第18题：
测量介质损耗角正切值有何意义？
正确答案: 测量介质损失角正切值是绝缘试验的主要项目之一。它在发现绝缘受潮、老化等分布性缺陷方面比较灵敏有效。
在交流电压的作用下，通过绝缘介质的电流包括有功分量和无功分量，有功分量产生介质损耗。介质损耗在电压频率一定的情况下，与tgδ成正比。对于良好的绝缘介质，通过电流的有功分量很小，介质损耗也很小，tgδ很小，反之则增大。
因此通过介质损失角正切值的测量就可以判断绝缘介质的状态。 -
第19题：
当绝缘介质一定，外加电压一定时，介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成（）。
- A、反比
- B、正比
- C、U形曲线比例关系
正确答案:B -
第20题：
tanδ是介质损耗因数，用百分比表示其数值，实际上它是介质损耗角δ的正切值。
正确答案:正确 -
第21题：
判断题介质损耗角正切值tanδ对局部集中缺陷不太灵敏时，一般将设备进行分解试验。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析 -
第22题：
判断题介质损耗角正切值与能量损耗成正比，可以用它来描述介质损耗大小。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第23题：
判断题M型介质试验器测量出被试品支路的视在功率S和有功损耗功率P，则其介质损耗角正切值tanδ=P/S。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析