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  • 第1题:

    扫描电子显微镜主要用于观察样品的表面形貌,常常采用CO2对生物样品进行干燥。为了得到良好的表面导电性,样品在观察前还需要()。


    正确答案:喷镀一层金膜

  • 第2题:

    下列哪些SEM数据可以通过网站分析工具监测到?()

    • A、站外投放的SEM关键字
    • B、站外投放的SEM广告单元
    • C、站外投放的SEM广告计划
    • D、触发SEM关键字时用户搜索的搜索词

    正确答案:A,B,C,D

  • 第3题:

    简要分析影响织物拉伸强力测试结果的主要因素有哪些?


    正确答案: (1)试验方法(如条样法、抓样法);
    (2)仪器设备(如CRT强力仪、CRE强力仪);
    (3)试验参数(如隔距、拉伸速度、预加张力);
    (4)试验条件(温、湿度)
    (5)试验操作(规范性)

  • 第4题:

    SEM法又称为扫描电镜形貌分析法,属于相对测年法,所测样品为断层泥中的()。

    • A、方解石
    • B、斜长石
    • C、角闪布
    • D、石英

    正确答案:D

  • 第5题:

    单选题
    SEM法又称为扫描电镜形貌分析法,属于相对测年法,所测样品为断层泥中的(  )。
    A

    方解石

    B

    斜长石

    C

    角闪布

    D

    石英碎砾


    正确答案: A
    解析:
    石英颗粒表面显微观测法又称为扫描电镜形貌分析法(SEM法),属于相对测年方法,所测样品为断层泥中的石英碎砾。断层泥中的主要成分为碎砾和黏土矿物,碎砾主要是石英和其他矿物及原岩碎屑,其中石英是稳定的矿物,形成后不会风化变质为其他矿物,而因溶蚀程度的不同表现出不同的溶蚀类型。同时,石英碎砾的溶蚀程度与时间是相关的,可在经验上和统计上得到不同时期形成的石英碎砾的溶蚀特征分布。这样,对比所测样品中石英碎砾的溶蚀类型和所占的比例就可以得到样品形成的地质时期。

  • 第6题:

    单选题
    SEM法又称为扫描电镜形貌分析法,属于相对测年法,所测样品为断层泥中的()。
    A

    方解石

    B

    斜长石

    C

    角闪布

    D

    石英


    正确答案: C
    解析: 断层泥中的主要成分为碎砾和黏土矿物,碎砾主要是石英和其他矿物及原岩碎屑,其中石英是稳定的矿物,形成后不会风化变质为其他矿物,而因溶蚀程度的不同表现出不同的溶蚀类型。同时,石英碎砾的溶蚀程度与时间是相关的,可在经验上和统计上得到不同时期形成的石英碎砾的溶蚀特征分布。这样,对比所测样品中石英碎砾的溶蚀类型和所占的比例就可以得到样品形成的地质时期。

  • 第7题:

    多选题
    下面关于电镜分析叙述中正确的是()
    A

    电镜只能观察形貌;

    B

    电镜可观察形貌、成分分析、结构分析和物相鉴定;

    C

    电镜分析在材料研究中广泛应用,是因为放大倍数高,与分辨率无关;

    D

    电镜在材料研究中广泛应用,是因为放大倍数高,分辨率高。


    正确答案: D,B
    解析: 暂无解析

  • 第8题:

    问答题
    模具产生磨损的因素有哪些?其中哪个是主要因素?

    正确答案: (1)塑料熔体流动的冲刷
    (2)成型过程中产生的腐蚀性气体的锈蚀
    (3)脱模时塑件与模具的摩擦
    (4)成型另加表面粗糙度上升后需要重新打磨抛光。
    其中脱模时塑件与模具的摩擦是主要因素。
    解析: 暂无解析

  • 第9题:

    单选题
    下面有关基于风险的方法的描述哪个是不正确的()
    A

    识别的风险经常用于决定哪些需要更多测试,哪些可以减少测试

    B

    识别的风险经常用于决定多少测试服务

    C

    识别的风险经常用于决定使用何种测试工具

    D

    识别的风险经常用于决定使用何种测试技术


    正确答案: B
    解析: 暂无解析

  • 第10题:

    填空题
    电子与物质相互作用,可产生(),(),(),特征X射线等用于观测样品形貌或成分的主要信号。

    正确答案: 二次电子,背散射电子,俄歇电子
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    单选题
    表面形貌分析的手段包括()
    A

    X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)

    B

    SEM和透射电镜(TEM)

    C

    波谱仪(WDS)和X射线光电子谱仪(XPS)

    D

    扫描隧道显微镜(STM)和SEM


    正确答案: A
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    单选题
    仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是()。
    A

    背散射电子

    B

    二次电子

    C

    吸收电子

    D

    透射电子

    E

    俄歇电子


    正确答案: E
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    扫描电子显微镜主要用于表面形貌的观察,在失效分析工作中具有非常重要的作用。它的分辨率高,可达()nm。

    • A、0.1~0.2nm
    • B、0.5~0.8nm
    • C、3~4nm
    • D、10~20nm

    正确答案:C

  • 第14题:

    频谱分析仪是测试电子产品频谱脉冲图像的一种设备,可以测试手机的高频信号、低频信号,测试精度远远高于示波器。


    正确答案:正确

  • 第15题:

    模具产生磨损的因素有哪些?其中哪个是主要因素?


    正确答案: (1)塑料熔体流动的冲刷
    (2)成型过程中产生的腐蚀性气体的锈蚀
    (3)脱模时塑件与模具的摩擦
    (4)成型另加表面粗糙度上升后需要重新打磨抛光。
    其中脱模时塑件与模具的摩擦是主要因素。

  • 第16题:

    共晶组织形貌主要有哪些?决定共晶组织形貌的主要因素是什么?


    正确答案:形态:层状或棒状
    影响因素:体积分数和比界面能

  • 第17题:

    问答题
    共晶组织形貌主要有哪些?决定共晶组织形貌的主要因素是什么?

    正确答案: 形态:层状或棒状
    影响因素:体积分数和比界面能
    解析: 暂无解析

  • 第18题:

    填空题
    XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分别代表X射线衍射分析、()、()、电子探针分析和差热分析分析方法。

    正确答案: 扫描电子显微分析,透射电子显微分析
    解析: 暂无解析

  • 第19题:

    问答题
    电子束入射固体样品表面会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途?

    正确答案: 主要有六种:
    1)背散射电子:能量高;来自样品表面几百nm深度范围;其产额随原子序数增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。
    2)二次电子:能量较低;来自表层5—10nm深度范围;对样品表面化状态十分敏感。不能进行成分分析.主要用于分析样品表面形貌。
    3)吸收电子:其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与背散射电子的衬度互补。吸收电子能产生原子序数衬度,即可用来进行定性的微区成分分析.
    4)透射电子:透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进行微区成分分析。
    5)特征X射线:用特征值进行成分分析,来自样品较深的区域。
    6)俄歇电子:各元素的俄歇电子能量值很低;来自样品表面1—2nm范围。它适合做表面分析。
    解析: 暂无解析

  • 第20题:

    填空题
    扫描电子显微镜主要用于观察样品的表面形貌,常常采用CO2对生物样品进行干燥。为了得到良好的表面导电性,样品在观察前还需要()。

    正确答案: 喷镀一层金膜
    解析: 暂无解析

  • 第21题:

    多选题
    在扫描电镜分析中()
    A

    成分像能反映成分分布信息,形貌像和二次电子像反映形貌信息

    B

    所有扫描电镜像,只能反映形貌信息

    C

    形貌像中凸尖和台阶边缘处最亮,平坦和凹谷处最暗

    D

    扫描电镜分辨率比透射电镜高


    正确答案: C,D
    解析: 暂无解析

  • 第22题:

    单选题
    电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是()
    A

    背散射电子

    B

    俄歇电子

    C

    特征X射线


    正确答案: B
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    单选题
    扫描电子显微镜主要用于表面形貌的观察,在失效分析工作中具有非常重要的作用。它的分辨率高,可达()nm。
    A

    0.1~0.2nm

    B

    0.5~0.8nm

    C

    3~4nm

    D

    10~20nm


    正确答案: A
    解析: 暂无解析

  • 第24题:

    单选题
    电子显微分析与其它的形貌、结构和化学组成分析方法相比不具有的特点()
    A

    具有在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、晶体结构和化学成分

    B

    为一种微区分析方法,具有很高的分辨率,成像分辨率达到0.2~0.3nm(TEM),可直接分辨原子,能进行纳米尺度的晶体结构及化学组成分析

    C

    各种仪器日益向多功能、综合性方向发展

    D

    操作复杂


    正确答案: C
    解析: 暂无解析