检定千分尺测量面平面度时,初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹,主要原因是什么?
第1题:
用平晶测量平面度误差时应如何评定?
第2题:
用平晶检定千分尺工作面时,如干涉条纹向内跑即为()
第3题:
用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。
第4题:
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?
第5题:
测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?
第6题:
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?
第7题:
对
错
第8题:
对
错
第9题:
第10题:
对
错
第11题:
第12题:
技术光波干涉法
比较法
光隙法
第13题:
测量平面度误差时,常将平面平晶工作面贴在被测表面上,并稍加压力,就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多,则平面度误差()。
第14题:
用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”(没有明显条纹),则说明()很好
第15题:
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。
第16题:
新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以()方法检定。
第17题:
对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
第18题:
用平晶检定工作面的平面度,是一种光波干涉法测量,那么产生光波干涉的条件是什么?
第19题:
第20题:
第21题:
第22题:
平面度
平行度
光洁度
准确度
第23题: