参考答案和解析
正确答案:D
更多“下列关于缺陷漏磁通的叙述,正确的是()”相关问题
  • 第1题:

    试件上的磁通密度在大于、等于饱和磁通密度的()%时,缺陷漏磁通开始急剧增大


    正确答案:80

  • 第2题:

    在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的()有关,与缺陷的()和()有关


    正确答案:磁通密度;几何形状;方向

  • 第3题:

    下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述中哪个是正确的()

    • A、它与试件上的磁通密度有关
    • B、它与缺陷的高度有关
    • C、磁化方向与缺陷垂直时漏磁通最大
    • D、以上都对

    正确答案:D

  • 第4题:

    在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向无关


    正确答案:错误

  • 第5题:

    下列有关漏磁通的叙述正确的是()。

    • A、内部缺陷处的漏磁通,比同样大小的表面缺陷为大
    • B、缺陷的漏磁通通常同试件上的磁通密度成反比
    • C、表面缺陷的漏磁通密度,随着离开表面距离的增加而急剧减弱
    • D、用有限线圈磁化长的试件,不需进行分段磁化

    正确答案:C

  • 第6题:

    磁粉探伤时,缺陷处产生的漏磁通与通过工件()有关,与缺陷的()和()有关。


    正确答案:电流;大小;位置

  • 第7题:

    填空题
    磁粉探伤时缺陷处产生的漏磁通与通过工件的()有关,与缺陷的()和()有关。

    正确答案: 电流,大小,位置
    解析: 暂无解析

  • 第8题:

    填空题
    磁粉探伤时,缺陷处产生的漏磁通与通过工件()有关,与缺陷的()和()有关。

    正确答案: 电流,大小,位置
    解析: 暂无解析

  • 第9题:

    填空题
    在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的()有关;与缺陷的()和()有关

    正确答案: 磁通密度,几何形状,方向
    解析: 暂无解析

  • 第10题:

    多选题
    关于零点漂移产生的原因下列叙述正确的是()。
    A

    电路元件本身缺陷

    B

    电源电压波动

    C

    电路级数过多


    正确答案: C,B
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    单选题
    下列关于漏磁通的叙述,正确的是()
    A

    内部缺陷处的漏磁通比同样大小的表面缺陷漏磁通大

    B

    缺陷的漏磁通通常与试件上的磁场强度成反比

    C

    表面缺陷的漏磁通密度,随离开表面的距离增大而急剧下降

    D

    用有限线圈磁化长的工件,不需要进行分段磁化


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    单选题
    下列关于缺陷形成漏磁通的叙述,正确的是()
    A

    缺陷离试件表面越近,形成的漏磁通越小

    B

    在磁化状态、缺陷类型和大小为一定时,其漏磁通密度受缺陷方向影响

    C

    交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时的漏磁通要小

    D

    在磁场强度、缺陷类型和大小为一定时,其漏磁通密度受磁化方向影响;

    E

    除A以外都对


    正确答案: E
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述()是正确的

    • A、磁化强度为一定时,缺陷高度小于1mm的形状相似的表面缺陷,其漏磁通与缺陷高度无关
    • B、缺陷离试件表面越近,缺陷漏磁通越小
    • C、在磁化状态、缺陷种类和大小为一定时,缺陷漏磁通密度受缺陷方向影响
    • D、交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时要小
    • E、当磁化强度、缺陷种类和大小为一定时,缺陷处的漏磁通密度受磁化方向的影响
    • F、c,d和e都对

    正确答案:F

  • 第14题:

    试件上的磁通密度在大于、等于饱和磁通密度的80%时,缺陷漏磁通开始急剧增大


    正确答案:正确

  • 第15题:

    下列关于缺陷形成漏磁通的叙述,正确的是()

    • A、缺陷离试件表面越近,形成的漏磁通越小
    • B、在磁化状态、缺陷类型和大小为一定时,其漏磁通密度受缺陷方向影响
    • C、交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时的漏磁通要小
    • D、在磁场强度、缺陷类型和大小为一定时,其漏磁通密度受磁化方向影响;
    • E、除A以外都对

    正确答案:E

  • 第16题:

    下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述()是正确的。

    • A、 在磁化状态、缺陷种类和大小为一定时,缺陷漏磁通密度受缺陷方向影响
    • B、 交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时要小
    • C、 当磁化强度、缺陷种类和大小为一定时,缺陷处的漏磁通密度受磁化方向的影响
    • D、 以上都对

    正确答案:D

  • 第17题:

    磁粉探伤时缺陷处产生的漏磁通与通过工件的()有关,与缺陷的()和()有关。


    正确答案:电流;大小;位置

  • 第18题:

    在电磁学中,关于磁路的概念,下列正确说法是().

    • A、磁力线所经过的路线
    • B、主磁通形成闭合回路所经过的路径
    • C、漏磁通形成闭合回路所经过的路径
    • D、主磁通与漏磁通共同经过的路径

    正确答案:B

  • 第19题:

    单选题
    下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述中哪个是正确的()
    A

    它与试件上的磁通密度有关

    B

    它与缺陷的高度有关

    C

    磁化方向与缺陷垂直时漏磁通最大

    D

    以上都对


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第20题:

    判断题
    在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向有关
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第21题:

    单选题
    下列关于缺陷漏磁通的叙述,正确的是()
    A

    与试件上总的磁通密度有关

    B

    与缺陷自身高度有关

    C

    磁化方向与缺陷垂直时漏磁通最大

    D

    以上都对


    正确答案: A
    解析: 暂无解析

  • 第22题:

    单选题
    下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述()是正确的
    A

    磁化强度为一定时,缺陷高度小于1mm的形状相似的表面缺陷,其漏磁通与缺陷高度无关

    B

    缺陷离试件表面越近,缺陷漏磁通越小

    C

    在磁化状态、缺陷种类和大小为一定时,缺陷漏磁通密度受缺陷方向影响

    D

    交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时要小

    E

    当磁化强度、缺陷种类和大小为一定时,缺陷处的漏磁通密度受磁化方向的影响

    F

    c,d和e都对


    正确答案: C
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    单选题
    下列有关漏磁通的叙述,哪些是正确的()
    A

    内部缺陷处的漏磁通,比同样大小的表面缺陷为大

    B

    缺陷的漏磁通通常同试件上的磁通密度成反比

    C

    表面缺陷的漏磁通密度,随着离开表面距离的增加而急剧减弱

    D

    用有限线圈磁化长的试件,不需进行分段磁化


    正确答案: C
    解析: 暂无解析