不能探测到缺陷的范围称为近场区。

第1题：

因为近场区内有多个声压为零的点，所以探伤时近场区缺陷往往会漏检。

第2题：

因为近场区内处于声压极小值处的较大缺陷回波可能较低，而处于声压极大值处的较小的缺陷回波可能较高， 应尽可能避免在近场区检测。

第3题：

当探头横向移动时，比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为（）

• A、远场区
• B、近场区
• C、过渡区
• D、阴影区

第4题：

从各个方向都能探测到的缺陷是点状缺陷。

第5题：

由于超声波的近场区声压分布没有规律，所以不能在近场区探伤、定量。

第6题：

探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。

第7题：

通常所称的游动缺陷回波是指用（）探测到的。

• A、直探头
• B、斜探头
• C、联合双探头
• D、均不能

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

超声场近场区内的缺陷一概不能发现。

第14题：

超声波检测中避免在近场区定量的原因是（）。

• A、 近场区的回波声压很高，定量不准确
• B、 在近场区检测时，由于探头存在盲区，易形成漏检
• C、 在近场区检测时，处于声压极小值处较大缺陷回波可能较低；处于声压极大值处的较小缺陷可能回波较高，容易出现误判
• D、 以上都对

第15题：

在近场区对缺陷定量，可以提高对缺陷定量的精度。

第16题：

当探头距缺陷水平距离不变时，缺陷比探头尺寸小产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为（）。

• A、远场区
• B、近场区
• C、过渡区
• D、阴影区

第17题：

在正常探伤灵敏度下，从探测表面到最近可探缺陷的距离，称为仪器的（）。

第18题：

近场区以远的区域称为超声场。

第19题：

各个方向都能探测到的缺陷是平面状缺陷。

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：