方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是()A.平行且靠近探测面 B.与声束方向平行 C.与探测面成较大角度 D.平行且靠近底面

题目
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是()

A.平行且靠近探测面
B.与声束方向平行
C.与探测面成较大角度
D.平行且靠近底面
相似考题

1.锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？()A.边缘效应 B.工件形状及外形轮廓 C.迟到波 D.以上全部

2.锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低，宽度较大

3.钢板超声波探伤，若仪器荧光屏上同时显示底波，缺陷回波，则存在大于声束直径的缺陷。

4.方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

参考答案和解析
答案：C
解析：
更多“方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是()”相关问题

  • 第1题：

    锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）

    • A、边缘效应
    • B、工件形状及外形轮廓
    • C、迟到波
    • D、以上全部

    正确答案:D

  • 第2题：

    锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）

    • A、边缘效应
    • B、工件形状及外形轮廓
    • C、缺陷形状和取向
    • D、以上全部

    正确答案:D

  • 第3题：

    粗糙的入射表面会使（）。

    • A、 缺陷回波振幅降低
    • B、 入射波幅加宽
    • C、 荧光屏上出现“淋状波”
    • D、 以上都对

    正确答案:D

  • 第4题：

    在有底波出现的直探头探伤中，缺陷一次回波的显示情况可能有（）。

    • A、出现在第一次底波之前
    • B、出现在第一次底波之后
    • C、没有缺陷回波，只有底波降低或消失
    • D、以上都有可能

    正确答案:D

  • 第5题：

    有体积状缺陷存在，但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法，可能是：（）

    • A、垂直法
    • B、表面波法
    • C、斜射法
    • D、穿透法

    正确答案:D

  • 第6题：

    大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时，如无缺陷，则探伤图形中只有发射脉冲和底波，如发现缺陷，则在底波之前显示（）


    正确答案:波缺陷

  • 第7题：

    方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。

    • A、平行且靠近探测面
    • B、与声束方向平行
    • C、与探测面成较大角度
    • D、平行且靠近底面

    正确答案:C

  • 第8题：

    单选题
    粗糙的入射表面会使（）。
    A

    入射波幅加宽

    B

    缺陷回波振幅降低

    C

    荧光屏上出现“淋状波”

    D

    以上都对


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）
    A

    反射波峰尖锐

    B

    反射波稳定但较波幅低

    C

    反射波幅低，宽度较大


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）
    A

    反射波峰尖锐

    B

    反射波稳定但较波幅低

    C

    反射波幅低，回波包络宽度较大


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。
    A

    平行且靠近探测面

    B

    与声束方向平行

    C

    与探测面成较大角度

    D

    平行且靠近底面


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）
    A

    平行且靠近探测面

    B

    与声束方向平行

    C

    与探测面成较大角度

    D

    平行且靠近底面


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）

    • A、反射波峰尖锐
    • B、反射波稳定但较波幅低
    • C、反射波幅低，回波包络宽度较大

    正确答案:C

  • 第14题：

    检测厚钢板采用垂直法探伤时，根据（）前后产生的回波情况进行缺陷评定。

    • A、第一次底波
    • B、第二次底波
    • C、多次底波
    • D、缺陷的水平距离

    正确答案:A

  • 第15题：

    锻件探伤时，（）会在荧光屏上产生非缺陷回波。

    • A、边缘效应
    • B、工件形状及外形轮廓
    • C、迟到波
    • D、以上全部

    正确答案:D

  • 第16题：

    直探头垂直扫查“矩形锻件”时，工件底面回波迅速降低或消失的原因是（）。

    • A、底波被较大的面积性缺陷反射
    • B、底波被较小的单个球状缺陷反射
    • C、底波的能量被转换为电能而吸收
    • D、以上都可能

    正确答案:A

  • 第17题：

    在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是（）

    • A、与表面成较大角度的平面缺陷
    • B、反射条件很差的密集缺陷
    • C、AB都对
    • D、AB都不对

    正确答案:C

  • 第18题：

    在有底波出现的直探头探伤中，缺陷一次回波的显示情况可能有（）。

    • A、出现在第一次底波之前
    • B、出现在第一次底波之后
    • C、没有缺陷回波，只有底波降低或消失
    • D、以上都不可能

    正确答案:A,B,C

  • 第19题：

    锻件探伤中，示波屏上单独出现的缺陷回波称为单个缺陷回波，一般单个缺陷间距大于（）。

    • A、30mm
    • B、35mm
    • C、40mm
    • D、50mm

    正确答案:D

  • 第20题：

    单选题
    锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）
    A

    边缘效应

    B

    工件形状及外形轮廓

    C

    迟到波

    D

    以上全部


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。
    A

    平行且靠近探测面

    B

    与声速方向平行

    C

    与探测面成较大角度

    D

    平行且靠近底面


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    多选题
    在有底波出现的直探头探伤中，缺陷一次回波的显示情况可能有（）。
    A

    出现在第一次底波之前

    B

    出现在第一次底波之后

    C

    没有缺陷回波，只有底波降低或消失

    D

    以上都不可能


    正确答案： D,B
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    填空题
    大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时，如无缺陷，则探伤图形中只有发射脉冲和底波，如发现缺陷，则在底波之前显示（）

    正确答案： 波缺陷
    解析： 暂无解析

  • 第24题：

    单选题
    锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）
    A

    边缘效应

    B

    工件形状及外形轮廓

    C

    缺陷形状和取向

    D

    以上全部


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

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