在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm

题目
在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。

A、0.001mm

B、0.002mm

C、0.003mm


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  • 第1题:

    若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。

    A、用刀口尺以光隙法检定

    B、用平晶的技术光波干涉法检定

    C、用刀口尺以量块比较法检定


    参考答案:C

  • 第2题:

    用刀口尺(样板直尺)检定工作面的平面度时,通常用光隙法进行,当采用此法检定时,其间隙量一般不大于()。

    A、0.010mm

    B、0.005mm

    C、0.003mm


    参考答案:B

  • 第3题:

    90度角尺由座与尺苗组成,用来检测工件相邻表面的垂直度。刀口形尺是利用透光法来检测工件平面的直线度和平面度的量具。()


    错误

  • 第4题:

    用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。

    A、球面干涉

    B、等倾干涉

    C、等厚干涉


    参考答案:C

  • 第5题:

    检定游标高度尺的示值误差或量爪工作面与基座工作面的平行度时,在1级平板上进行,对1级平板来说,其平面度不大于()。

    A、(10+1/100)μm

    B、(20+1/50)μm

    C、(5+1/200)μm


    参考答案:A